1.是借助精度為0.5m的電子水平儀，用位移法可檢測大理石平臺(tái)的直線度，用次方法可檢測大理石平臺(tái)的平面度,，將檢測的結(jié)果經(jīng)過算法換算,，可得到大理石平臺(tái)的直線度和平面度的具體數(shù)值；其特點(diǎn)是精度不太高,，但測量數(shù)據(jù)可靠，無“0”點(diǎn)漂移問題，特別適合于在線測量與檢測精密大理石平臺(tái),。

 

2.測量精密大理石平臺(tái)直線度的方法可以通過精度為0.1m的電容測微儀用位移法測量，其表頭的示值即為精密大理石平臺(tái)的直線度的誤差值,；在此測量中,，由于電感測微儀自身的“0”點(diǎn)漂移較嚴(yán)重，需經(jīng)過長達(dá)24h的穩(wěn)定后,，其數(shù)值才可信,，故使得精密大理石平臺(tái)加工與測量間的銜接時(shí)間增長。

 

更高精度精密大理石平臺(tái)的加工必須有更高一級(jí)精度的檢測手段，目前常采用HP5528A或HP5529A動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)儀,，它的顯示精度為1nm,，可檢測平面度、垂直度,、直線度,、時(shí)基即振動(dòng)、角位移測量,、對(duì)角測量等等,。動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)儀的檢測精度特別高，但由于其復(fù)雜的光學(xué)系統(tǒng)和復(fù)雜的調(diào)試程序,，尤其是光具返回光束的光強(qiáng)和保證在80%以上,，否則光束將被擋住，這對(duì)精密大理石平臺(tái)調(diào)試者來說